主要提供便攜式合金分析儀、貴金屬分析儀、三元鋰電池分析儀等設(shè)備銷(xiāo)售及解決方案,產(chǎn)品暢銷(xiāo)北京、上海、深圳、浙江、江蘇、廣東、安徽等全國(guó)各地
奧林巴斯的X射線(xiàn)熒光(XRF)分析儀具有很高的分析性能,可以實(shí)時(shí)提供地球化學(xué)數(shù)據(jù),從而有助于用戶(hù)快速確定土壤、巖石和礦石的多元素特性。XRF技術(shù)的最新發(fā)展,增加了可測(cè)元素的數(shù)量,改進(jìn)了檢出限,并降低了檢測(cè)時(shí)間。
Vanta XRF分析儀在金礦上和金礦實(shí)驗(yàn)室中,可以快速方便地測(cè)量與黃金勘探相關(guān)的很多種類(lèi)的樣本,而且還可以對(duì)精煉黃金產(chǎn)品進(jìn)行快速準(zhǔn)確的分析。
大多數(shù)金礦床都有其特定的地球化學(xué)特征(如上表所示)。XRF分析儀可以探測(cè)到這些地球化學(xué)特征,從而可使地質(zhì)學(xué)家更清楚地了解他們正在勘查的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。
常見(jiàn)金探途元素的典型XRF檢出限(Vanta VMR型號(hào)地球化學(xué)模式)
元素 | 檢出限(ppm)* | 元素 | 檢出限(ppm)* |
As | 1 | W | 1 |
Cu | 2 | Bi | 2 |
Pb | 2 | Sb | 2 |
Zn | 1 | Ag | 2 |
*每個(gè)光束120秒的檢測(cè)時(shí)間,無(wú)干擾的二氧化硅基質(zhì);請(qǐng)參閱奧林巴斯有關(guān)檢出限的文件,了解有關(guān)更低檢出限的詳細(xì)探討說(shuō)明。
眾所周知,手持式XRF分析儀不能對(duì)地質(zhì)樣本中低含量的金元素進(jìn)行直接檢測(cè)(如:低ppm和ppb值)。基于實(shí)驗(yàn)室的火試金法被普遍認(rèn)為是分析金元素的首選方法。金元素的L線(xiàn)處于X射線(xiàn)熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個(gè)區(qū)域中,來(lái)自其它元素(如:As, Zn, W和Se)的干擾,會(huì)使分析儀得出錯(cuò)誤的金元素存在的判斷。
不過(guò),在某些特定的情況下,如:高品位的(> 5 ppm)石英脈環(huán)境(相對(duì)來(lái)說(shuō)沒(méi)有干擾)或在精煉的金產(chǎn)品中(金元素有很高的含量),可以使用XRF分析儀對(duì)金元素進(jìn)行直接檢測(cè)。
圖像由Arne等提供(2014) – 在金元素勘探中對(duì)來(lái)自手持式XRF分析儀的資產(chǎn)規(guī)模數(shù)據(jù)的使用 – 優(yōu)勢(shì)和局限性,地球化學(xué):勘探,環(huán)境,分析。
來(lái)自加拿大的金元素勘探項(xiàng)目,XRF分析儀在野外繪制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值線(xiàn)圖對(duì)比ICP分析。
金礦上越來(lái)越多的實(shí)驗(yàn)室正在使用XRF技術(shù)替代或補(bǔ)充火試金法,對(duì)礦石進(jìn)行分析。在礦山上,工作人員也會(huì)使用奧林巴斯手持式XRF分析儀檢測(cè)活性炭中的金元素。